CorrectValueCdl从商业软件拟合得到的阻抗结果中确定正确的Cdl值CN.pdfVIP

从商业软件拟合得到的阻抗结果中确定正确的Cdl 值 介绍 子吸附时，应该引入CPE 代替Cdl。公式（4）是用 CPE 代替Cdl，并使用商业软件定义的CPE 得到的。 引入常相位角元件（CPE）来代替EIS 测试中的电容元 件，大多数商业软件（Gamry, Scribner, Solartron 等）都可以拟合EIS 数据。与使用纯电容获得的拟合 结果相比，CPE 获得的结果要好得多。 考虑到CPE 定义了电化学EIS 实验中表面的不均匀性 以及固态EIS 测试中电荷分布不均匀性，在真实体系 中使用CPE 能获得更好的拟合是合理的。最主要的问 题是，在商业软件中使用CPE 拟合得到的电容没有容 量的单位，即 F cm-2 或者Ω-1 cm-2，而是Ω-1 cm-2 sa，其中a 是CPE[1] （ZCPE = Zdl(j ω)-a）方程式中 式中Adl 没有容量单位，因此有必要通过拟合Cdiff 的指数。 VS f 曲线来校正Adl 值。根据G. J. Brug 等[9]的研 究结果，对于CPE 与Rs 串联（溶液电阻），Cdl 的值 论文[2-4]已讨论过这一问题，最近，Hsu 和Mansfeld 可以通过公式（5）[7]得到 [5]通过使用公式（1），在CPE 与R 并联情况下，开 发了将容量和其真实值进行校正的公式。 ′′ 在这项工作中，为了确定电容真实值和用商业软件拟 其中ω 表示-Z’’最大时的角频率，此时与指数a 合EIS 得到的拟合值之间的关系，分析了对应于CPE 无关，Adl 表示拟合结果。 与R 并联的电化学过程的微分电容和阻抗。 在讨论对时间常数分布不同的处理方法时，M. Orazem 等[6]指出，CPE 与R 并联时等效电路的阻抗可用公式 结果和讨论 （2）或（3）表示。 考虑公式（2）和（3），可以得出结论，公式（2）似 乎更加正确，因为在该等式中，由表面不均匀性导致 的电容频率分散与同一表面电荷转移分布密切相关， 这两个因素是互相依赖的。由公式（2）得到的微分电 容为： 由公式（3）得到的微分电容为： 重要的是要注意，所有商业软件拟合阻抗数据时都用 的公式（3）。 最近的研究表明，在0.01M NaCl 溶液中的Ag[111][7] 和在0.1M NaOH 溶液中的Cu 单晶[8]甚至不能将单晶 表面视为均质，并且用Cdiff 对f 曲线分析研究阴离 因此，公式（6）在单位上是正确的，而公式（7）是 图1 是Z’ VS Z’’图，可以看到用公式（8）和（9 不正确的，需要额外的校正。 ）得到的图和用公式（10）和（11）是一样的，但是 在-Z’’ VS log f 图中存在很大的差异。正如Hsu 和 同时，阻抗的实部（Z’）和虚部（Z’’）分别由公 Mansfeld [5]在论文中提到的那样，当使用公式（8） 式（8）和（9）定义。 和（9）时，在-Z’’ VS log f 图（图2）中，-Z’