一种半导体制冷片的工作性能测试装置.pdfVIP

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2023-11-11 发布于四川
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一种半导体制冷片的工作性能测试装置.pdf

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本发明涉及一种半导体制冷片的工作性能测试装置，包括测试台，所述测试台的上表面固定连接有测试组件，所述测试台的一侧固定连接有散热组件，所述测试台的内部设置有与散热组件相连通的连通管，所述测试台的上表面开设有用于气流通过的通孔，所述连通管用于散热组件远距离对制冷片进行散热。本发明中，通过将散热组件安装在测试台的外部，能够减少风扇工作时产生的热量向制冷片附近传递，较长的连通管能够使由于风扇产生的热量而升温的气流，顺着连通管流动时与箱体内空气进行热交换，减少其对制冷片的干扰，通过设置隔板，将箱体内进行热

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117030790 A (43)申请公布日 2023.11.10 (21)申请号 202311180506.0 (22)申请日 2023.09.13 (71)申请人河南省科学院地址 450000