测距机构及取放装置.pdfVIP

下载本文档

0
0
约1.33万字
约 13页
2023-11-11 发布于四川
举报
版权申诉

测距机构及取放装置.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明涉及晶元测距技术领域，公开一种测距机构及取放装置，测距机构包括测量组件和调节组件，测量组件包括测距筒、第一弹性件和测距触头，第一弹性件位于测距筒内，测距触头的一端位于测距筒内且与第一弹性件连接，测距触头的另一端位于测距筒外且能够抵接晶元，测距筒上设置有激光测距仪，激光测距仪用于测量测距触头的测距平台与激光测距仪之间的距离。调节组件安装于移动主体上，移动主体可带动调节组件移动，调节组件的输出轴与测距筒连接，输出轴转动可使测量组件转至测距位置，位于测距位置的测距触头的另一端能够抵接晶元，以获取

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117038534 A (43)申请公布日 2023.11.10 (21)申请号 202311300863.6 (22)申请日 2023.10.10 (71)申请人上海陛通半导体能源科技股份有限