GBT7991-2003 搪玻璃层厚度测量 电磁法.pdfVIP

GB/T 7991-2003 搪玻璃层厚度测量 电磁法 范围 本标准适用于用电磁法测量磁性基体上的搪玻璃层厚度的方法。 2 原理 5 3 用电磁法测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化而得到覆盖层的厚度。 8 3 3 影响测量精度的因素 3 0 3 3.1搪玻璃层厚度 6 5 搪玻璃层厚度的变化会影响测量精度，与所选用的仪器有关。对薄的搪玻璃层这个精度是一个常 1 数值，与厚度无关;对于厚的搪玻璃层，其精度随搪玻璃层厚度的增加有所降低。 Q Q 3.2 基体金属的磁性 】 磁性测厚仪受基体金属磁性变化的影响(低碳钢的磁性变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理 6 9 和冷加工因素的影响，应用与被测件基体金属具有相同性质的标准样来校准仪器。最好用未搪玻璃前 单 的试件来校准 简 3. 3 基体金属厚度 【 每种仪器都对被测件的基体金属有一个临界厚度的要求，超过这个厚度，测定值不会受到基体金属 厚度增加的影响。如果仪器制造厂未提供本台仪器的临界厚度值，应通过试验确定 3.4 边缘效应 被测件表面形状的突变会影响磁性测厚仪的准确性。因此，太靠近被测件边缘或拐角处的测试数 5 3 据是不可靠的，除非该仪器针对上述条件做了校准。这种影响可能延伸到距边角15 mm处。 8 3.5 曲率 3 3 被测件的曲率半径越小，影响越显著。这与仪器的类型有相当大的关系。 0 3 用双极测头测厚仪测量时，测头与圆桂体的轴向平行或垂直放置，读数会不同。单极测头如果测头 6 5 发生了不规则磨损，也会产生类似的现象 1 Q 因此，在弯曲试样上测量前仪器要针对这种情况进行专门校准，否则，测量数据不可靠。 Q 3.6 表面粗糙度 】 如果在被测件粗糙表面上同一参考面积内所测得的一系列数值明显地超过仪器固有的重现性，则 6 9 在某一点测量