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一种芯片测试系统、方法、芯片和介质,芯片测试系统包括:被分为至少两个子链的扫描链;用于对整条扫描链进行ATE测试的第一嵌入式确定性测试模块;用于LBIST的第二嵌入式确定性测试模块。第二嵌入式确定性测试模块,包括LBIST输入单元和LBIST输出单元。LBIST输入单元的输入端,输入LBIST测试信号;其至少两个输出端,对应连接至少两个子链的首端的扫描节点。LBIST输出单元的至少两个输入端,对应连接至少两个子链的末端的扫描节点;其输出端,输出LBIST扫描信号。由此,不仅能够有效降低LBIST
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117054864 A
(43)申请公布日 2023.11.14
(21)申请号 202311019521.7
(22)申请日 2023.08.14
(71)申请人 南京芯驰半导体科技有限公司
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