集成嵌入式闪存器件的制造方法.pdfVIP

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本发明提供一种集成嵌入式闪存器件的制造方法,提供衬底,衬底上形成有STI以定义出不同器件的有源区,有源区包括第一、二类型生长区,之后对衬底进行预清洗;利用第一氧化层生长工艺在第一类型生长区中生长第一氧化层,第一氧化层为第一厚度,之后利用第二氧化层生长工艺在第一、二类型生长区中继续生长第二氧化层,第二氧化层为第二厚度;或利用第二氧化层生长工艺在第一、二类型生长区中生长第二氧化层,第二氧化层为第二厚度,之后利用第一氧化层生长工艺在第一类型生长区中生长第一氧化层,第一氧化层为第一厚度。本发明能够达到在

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117062441 A (43)申请公布日 2023.11.14 (21)申请号 202310944937.3 (22)申请日 2023.07.28 (71)申请人 上海华力集成电路制造有限公司 地址

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