《石墨烯电子迁移率的测定-编制说明》.pdfVIP

一、标准制定的目的和意义 石墨烯是由单层碳原子构成的二维平面结构材料，其具有优异的电学性质， 电子在层片内传输时受到的干扰很小，不易发生散射，因此石墨烯薄膜的电子迁 5 2 -1 -1 移率可达2×10 cm ·V ·s ，约为硅片的100 倍，石墨烯薄膜在晶体管、集成电 路、透明导电电极、超级电容器、光电器件等领域已呈现良好的应用前景，石墨 烯作为我国《新材料产业“十三五”发展规划》中前沿新材料的重点发展对象，在 政府和国家的大力扶持下，得到了长足发展。目前我国在已建成多条石墨烯薄膜 生产线，薄膜尺寸也由最初的5、6 寸发展成长、宽几十公分的大片石墨烯薄膜， 有望成为ITO 膜的最佳替代材料，随着石墨烯薄膜生批量化生产的能力逐年提 升，市场上的石墨烯薄膜逐渐增多。但目前仍然没有统一的石墨烯薄膜电子迁移 率的测定方法，因此亟需研制出一种稳定可靠的石墨烯薄膜电子迁移率检测标 准。 制定快速、简洁和准确的石墨烯薄膜电子迁移率测定方法，不仅可以准确测 定石墨烯电子迁移率指标，而且可以填补国内行业标准的空白，对于使用单位和 检测机构具有重要意义和作用，能为石墨烯薄膜的生产和应用提供技术支撑。 二、标准的任务来源及参与单位 2020年3 月，广州特种承压设备检测研究院向广东省特种设备行业协会提