一种波形分析方法、装置和存储介质.pdfVIP

一种波形分析方法、装置和存储介质.pdf

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本公开涉及一种波形分析方法、装置和存储介质。该波形分析方法包括:对波形文件进行波形识别,确定出所述波形文件中波形包含的控制命令和/或数据信号,所述波形通过对待测硬件部件进行检测得到;根据所述控制命令和/或数据信号,确定所述波形的时序参数;以及基于所述时序参数对所述待测硬件部件进行分析,得到分析结果,所述分析包括规则检查和/或性能分析,所述分析结果包括规则检查结果和/或性能分析结果。通过该波形分析方法,能够、快速且全面地对计算机硬件的错误以及性能进行分析。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117076224 A (43)申请公布日 2023.11.17 (21)申请号 202311120213.3 (22)申请日 2023.08.31 (71)申请人 上海兆芯集成电路

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