基于虚拟测量刻度尺的距离测量方法、装置、设备及介质.pdfVIP

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2023-11-25 发布于四川
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基于虚拟测量刻度尺的距离测量方法、装置、设备及介质.pdf

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本发明涉及集成电路技术领域，公开了一种基于虚拟测量刻度尺的距离测量方法、装置、设备及存储介质，包括：获取第一待测点与第二待测点的像素坐标；基于第一待测点与第二待测点的像素坐标进行第一线段的绘制；基于第一线段的长度和方位角，按照第一步长在所述第一线段上进行第二线段的绘制，得到刻度线；基于第一线段的长度，按照第二步长对刻度线进行刻度标注，得到虚拟测量刻度尺；基于虚拟测量刻度尺，确定第一待测点与第二待测点之间的距离；本发明可以提高量子芯片设计中各元器件以及元器件间尺寸测量的准确性及效率，为量子芯片的正

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117109459 A (43)申请公布日 2023.11.24 (21)申请号 202310911549.5 (22)申请日 2023.07.24 (71)申请人山东云海国创云计算装备产业创新