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本发明涉及厚度测量技术领域,提出了基于X射线的板厚测量方法,包括:获取测量干扰检测矩阵;基于测量干扰检测矩阵中的行向量得到板厚测量过程中噪声源的估计值;根据声音传感器相较于测厚仪接收器的角度信息以及估计值获取每个行向量的测量噪声影响加权系数;根据测量干扰样本在影响加权坐标系上的投影结果获取测量干扰映射样本;根据所有测量干扰映射样本的聚类结果获取测量干扰系数;根据测量干扰系数得到分解阈值;利用小波去噪算法基于分解阈值得到去噪电流数据序列,根据去噪电流数据序列得到板厚测量结果。本发明通过分析测量过程
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117113008 A
(43)申请公布日 2023.11.24
(21)申请号 202311368854.0 G06F 123/02 (2023.01)
(22)申请日 2023.10
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