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用于芯片检测任务的人工智能芯片计算方法、装置及芯片.pdfVIP

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  • 2023-11-29 发布于四川
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用于芯片检测任务的人工智能芯片计算方法、装置及芯片.pdf

    本发明是关于用于芯片检测任务的人工智能芯片计算方法、装置及芯片。其中，该方法包括：在同一计算任务内，根据不同聚合等级将待计算浮点数据对齐到相应的基准指数位，得到多个浮点数据块，同一浮点数据块中的浮点数据具有相同的基准指数位；所述聚合等级能根据计算任务或计算时间进行动态调整；对浮点数据块中的浮点数据进行计算：若是加减运算，则直接进行浮点数据的尾数加减运算；若是乘法运算，则直接对指数位进行移位；若是除法运算，则将指数位直接转化为归零。本发明在计算单元进行计算之前，先根据不同聚合等级统一对浮点数据进行

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117130664 A (43)申请公布日 2023.11.28 (21)申请号 202311370384.1 (22)申请日 2023.10.23 (71)申请人 北京星宇天航科技有限公司 地址

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