基于口面场的相控阵自动校准方法、介质及电子设备.pdfVIP

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  • 2023-12-02 发布于四川
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基于口面场的相控阵自动校准方法、介质及电子设备.pdf

本申请提供一种基于口面场的相控阵自动校准方法、介质及电子设备。所述校准方法包括:获取配置信息,所述配置信息包括所述相控阵中频点的目标幅度、目标相位和所述相控阵子阵的通道坐标,所述子阵的各通道包括若干所述频点;获取所述频点的第一待校准幅度和第一待校准相位,所述第一待校准幅度和所述第一待校准相位与所述子阵通道坐标相关;基于预设的衰减步进、所述第一待校准幅度、所述目标幅度、预设的移相步进、所述第一待校准相位和所述目标相位获取所述频点的移相码和衰减码。所述校准方法能够实现对所述相控阵中频点的幅度和相位进

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117155488 A (43)申请公布日 2023.12.01 (21)申请号 202311125044.2 (22)申请日 2023.09.01 (71)申请人 浙江大学 地址 310058

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