一种用于ATE测试平台的测试判断系统.pdfVIP

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2023-12-06 发布于四川
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本发明公开了一种用于ATE测试平台的测试判断系统，涉及ATE测试平台测试技术领域，预先收集ATE测试平台对于芯片进行测试的测试功能表，预先收集过去每次使用ATE测试平台对芯片进行测试时，生成的一组测试训练数据，训练出判断抽样的芯片是否合格的贝叶斯网络模型，收集在每一个新生产批次的芯片生产后，对芯片进行抽样，并收集ATE测试平台对每个抽样的芯片生成的测试特征向量，基于最新生产批次对应的所有测试特征向量，更新抽样率和更新每项测试功能的功能测试率，并更新下一生产批次的测试策略；降低了人工判断测试结果的

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117169697A

(43)申请公布日2023.12.05

(21)申请号202311394173.1G06F18/214(2023.01)

(22)申请日2023.10

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