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随机谱下合并低载的耐久性试验方法.pdfVIP

随机谱下合并低载的耐久性试验方法.pdf

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    本发明公开了随机谱下合并低载的耐久性试验方法，获取试件的随机载荷谱，将所述随机载荷谱进行预处理，并获取随机载荷谱参数；将合并低载循环记为标识载荷，根据试验目标寿命和所述随机载荷谱参数，确定标识载荷参数；对试验件进行含所述标识载荷的随机谱下的疲劳试验，并对所述试验件的断口进行判读，获取裂纹扩展数据；通过所述裂纹扩展数据，判断所述标识载荷参数的合理性；若所述标识载荷参数不合理，则修正所述标识载荷参数；通过修正后的标识载荷参数确定的含耐久性试验随机谱对试验件进行试验，获取试验件的裂纹扩展数据。本发明能

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117191607A

    (43)申请公布日2023.12.08

    (21)申请号202311142277.3

    (22)申请日2023.09.06

    (71)申请人北京航空航天大学

    地址1001

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