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本发明提供一种测量箔材电导特性的方法，涉及电子工程、半导体工程和材料工程技术领域，包括：获取待测量的目标箔材，并识别所述目标箔材的第一尺寸；根据所述第一尺寸和各绝缘基板的第二尺寸，从各所述绝缘基板中选择测量载体，所述测量载体的所述第二尺寸小于所述第一尺寸；将所述目标箔材贴敷于所述测量载体的表面，使所述目标箔材包裹所述测量载体，得到测量样本；基于二维平面近似模型，对所述测量样本进行导电性能测量，得到所述目标箔材的电导特性。本发明可以准确地测量箔材的电导特性，广泛适用于不同材料、不同电导率、不同厚薄
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117192209A
(43)申请公布日2023.12.08
(21)申请号202311083593.8
(22)申请日2023.08.25
(71)申请人中车工业研究院有限公司
地址1
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