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基于FPGA的误码率测试仪设计的开题报告

1.选题背景和意义：

误码率(BitErrorRate,BER)是衡量数字通信质量的重要指标之一。误码率测试仪是测量数字通信误码率的核心设备。当前常用的误码率测试仪主要由高速采样率的数字信号处理器、混频及时钟电路、精密的时序控制电路和高速数据存储器等组成。然而，这种误码率测试仪成本高、功能复杂、体积庞大。因此，本文提出一种基于FPGA的小型、低成本、高性能误码率测试仪解决当前误码率测试的问题。

2.文献综述：

误码率测试仪的研究及其设计已有相应文献，但大多数研究侧重于误码率测试仪的算法设计和软件实现。与之相比，FPGA技术发展迅速，其高集成度、可编程性、低成本的优势有望成为误码率测试仪的理想平台。因此，本文旨在利用FPGA技术设计一个高性能、低成本、小型的误码率测试仪。

3.设计思路和方法：

本文采用FPGA作为核心芯片，设计了高速采样、信号调制、时钟回路、误码计数和数据处理等模块。对于误码计数和数据处理模块，采用了多种误码检测算法，包括基于码重复码、自适应门限检测算法等。同时，为了提高误码率测试仪的精度和准确性，本文还引入了硬件自适应滤波器和数字锁相环等技术。

4.论文贡献：

本文提出一种基于FPGA的误码率测试仪解决当前误码率测试的问题。相比传统误码率测试仪，本文设计的误码率测试仪具有高集成度、小型化、低成本、高性能等优势。此外