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本申请涉及一种用于PCB对位能力测试的图形结构及其测试方法。一种用于PCB对位能力测试的图形结构及其测试方法，包括PCB正式板，PCB正式板的四角设置有用于对位能力测试的图形结构，图形结构包括：设置在PCB正式板表层的第一图形、设置在PCB正式板信号层的第二图形，以及设置在PCB正式板电地层的第三图形。通过设置第一图形、第二图形、第三图形，能够反应PCB正式板整板的对位能力，从而能够筛选出对位不良、层间偏位的异常板，能够有效避免因其偏位导致PCB正式板有效图形区域内线路绝缘间距不足的问题，从而保
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117222097A
(43)申请公布日2023.12.12
(21)申请号202311161124.3G01B21/16(2006.01)
(22)申请日2023.09.
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