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双探针STM-MBE联合系统的研发和二维金属薄膜的原位输运研究的开题报告

题目：双探针STM-MBE联合系统的研发和二维金属薄膜的原位输运研究

一、研究背景和意义：

在纳米科学领域，表面科学的原位研究是非常重要的。表面和界面的性质会受到许多因素的影响，如温度、气压、表面化学反应等，因此表面科学的原位研究能够更好地模拟实际使用状态。纳米材料的研究，尤其是二维纳米材料的制备和表征，得益于扫描隧道显微镜（STM）和分子束外延（MBE）技术的发展。STM可以直接观测到原子级别的表面结构和局域性质，而MBE可精确控制表面结构和化学成分。

双探针STM-MBE联合系统将STM和MBE组合在一起，能够实现原位制备和表征纳米材料，可以用于二维材料的原位制备及其物理、化学和电学性质的表征和研究。该系统能够在轻松控制二维薄膜的生长过程的同时，可实现对电学性能的实时监测。这样，我们可以研究纳米材料的生长机制、结构和特性之间的关系以及二维金属薄膜的原位输运性质，具有重要的科学意义和应用价值。

二、研究内容：

1.双探针STM-MBE联合系统的建设：设计构建双探针STM-MBE联合系统，实现对二维金属薄膜的实时原位监测及生长。

2.二维金属薄膜的制备和表征：利用双探针STM-MBE联合系统制备二维金属薄膜，并利用STM表征其表面形貌和结构；通过电学测试和x射线光电子能谱（XPS）等技术对其物理、化学性质进行