一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法.pdfVIP

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2023-12-13 发布于四川
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一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法.pdf

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本发明属于元素检测领域，涉及一种X射线荧光光谱测定硅氧化物中元素含量的熔片制样方法，包括采用熔剂Ⅰ和非还原性脱模剂Ⅰ对铂黄坩埚的底部进行保护处理，获得护底铂黄坩埚；采用熔剂Ⅱ对护底铂黄坩埚的侧壁进行保护处理，获得护底‑护壁铂黄坩埚；将硅氧化物待测样品、助熔剂和添加剂加入护底‑护壁铂黄坩埚中高温熔融后冷却，即得熔片；所述添加剂中含有第一氧化剂、第二氧化剂和碱性调节剂，所述第一氧化剂选自高价态金属氧化物、高价态非金属氧化物、金属过氧化物、金属次氯酸盐和金属高氯酸盐中的至少一种，所述第二氧化剂为硝酸盐

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117214213A

(43)申请公布日2023.12.12

(21)申请号202311190060.X

(22)申请日2023.09.15

(71)申请人厦门厦钨新能源材

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