大尺寸外径千分尺校准规范.docx

JJF1088—2015

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大尺寸外径千分尺校准规范

1范围

本规范适用于分度值为0.01mm,测量范围分别为(500～1000)mm、(1000~3000)mm的大尺寸外径千分尺的校准。

2引用文件

本规范引用了下列文件：

JB/T10007—2012大外径千分尺(测量范围为1000mm～3000mm)

GB/T1216外径千分尺

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。

3概述

大尺寸外径千分尺是利用螺旋副原理，对尺架上两测量面间分隔的距离进行测量的外尺寸测量器具。测砧可换或可调式大尺寸外径千分尺见图1,带表大尺寸外径千分尺见图2,校对用量杆见图3。

图1测砧可换或可调式大尺寸外径千分尺

1—尺架；2—测砧；3—测砧紧固螺钉；4—测力装置；5—微分筒；6—固定套管；

7—测杆锁紧装置；8—测微螺杆；9—隔热装置

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图2带表大尺寸外径千分尺

1—尺架；2—测砧；3—测砧紧固螺钉；4—指示表；5—微分筒；6—固定套管；

7—测杆锁紧装置；8—测微螺杆；9—隔热装置

图3校对用量杆

1—隔热套

4计量特性

4.1测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量

偏移量限见表1。

表1测砧测量面与测微螺杆测量面的相对偏移量

测量范围/mm

偏移量限/mm

500～700

0.8

700～1500

1.0

1500～2000

2.0

2000～2500

3.0

2500～3000

4.0

4.2测力和测力变化

大尺寸外径千分尺平测微头与球面接触时的测量力为(8～12)N。带表大尺寸外径千分尺的活动测砧与球面接触时的测量力为(6～10)N。测量力的变化不大于2N。

4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管标尺标记面的距离

微分筒锥面的端面棱边至固定套管标尺标记面的距离不大于0.4mm。

4.4微分筒锥面的端面与固定套管毫米标尺标记的相对位置

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当微分筒零标尺标记与固定套管纵向标尺标记对准时，微分筒锥面的端面与固定套管毫米标尺标记的右边缘应相切。若不相切时，允许压线不大于0.05mm,离线不大于0.10mm:

4.5测量面的表面粗糙度

大尺寸外径千分尺和校对用量杆测量面的表面粗糙度应根据材料种类、表面形状的不同而有所区别，应不超过表2的规定。

表2测量面的表面粗糙度

材料种类、表面形状

表面粗糙度

硬质合金

Ra0.05μm

不锈钢、工具钢

Ra0.1μm

球面及特型面

Ra0.2μm

4.6测砧和测微螺杆测量面的平面度

测量范围(500～1000)mm的大尺寸外径千分尺测量面的平面度不大于0.6μm;

测量范围(1000～3000)mm的大尺寸外径千分尺测量面的平面度不大于1μm。

4.7两测量面的平行度

两测量面的平行度限见表3。

表3大尺寸外径千分尺最大允许误差和两测量面的平行度限

型式

测量范围/mm

最大允许误差/μm

平行度限/μm

测砧可换式

(或可调式)

大尺寸外径千分尺

500～600

±14

12

600～700

士16

14

700～800

士18

16

800～900

±20

18

900～1000

士22

20

1000～1100

±23

21

1100～1200

±24

22

1200～1300

土26

23

1300～1400

±28

25

1400～1500

土29

26

1500～1600

±31

27

1600～1700

士32

29

1700～1800

土34

30

1800～1900

±35

31

1900～2000

士37

33

2000～2200

士40

35

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表3(续)

型式

测量范围/mm

最大允许误差/μm

平行度限/μm

测砧可换式

(或可调式)

大尺寸外径千分尺

2200～2400

士43

38

2400～2500

士44

39

2500～2600

土46

41

2600～2800

士49

43

2.800～3000

±52

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带表

大尺寸外径千分尺

1000～1500

士30

28

1500～2000

士40

38

2000～2500

士50

48

2500～3000

±60

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4.8测微头的示值误差

示值范围为(0～25)mm的测微头的示值误差不超过±4μm;示值范围为(0~50)mm的测微头不超过±5μm。

4.9大尺寸外径千分尺的示值误差

大尺寸外径千分尺的示值最大允许误差见表3。

4.10指示表的回程误差

带表大尺寸外径千