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适用于近红外水分仪的下位机快速寻峰方法、水分仪.pdfVIP

适用于近红外水分仪的下位机快速寻峰方法、水分仪.pdf

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    本发明提供适用于近红外水分仪的下位机快速寻峰方法、水分仪，方法包括：对采样信号序列A进行适应性处理后得到序列D；依据值是否大于0，依序对序列D中的值进行区间划分，获取第一序列Pn1和第一序列Vm1；依据对应电机转速设置的阈值，对第一序列Pn1和第一序列Vm1所包含区间进行优化，获取第二序列Pn2和第二序列Vm2；去除第二序列Pn2和第二序列Vm2中不满足突出条件的区间，获取第三序列Pn3和第三序列Vm3；分别依据第三序列Pn3和第三序列Vm3在采样信号序列中确认波峰和波谷。本发明能够在下位机资源

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117251721A

    (43)申请公布日2023.12.19

    (21)申请号202311534204.9

    (22)申请日2023.11.17

    (71)申请人奥谱天成（厦门）光电有限公司

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