SJ∕T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法.pdf

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res2s.04s

H83

备案号:50544-2015

中华人民共和国电子行业标准

SI厅11487-2015

半绝缘半导体晶片电阻率的无接触

测量方法

n-contactmeasurementmethodfortheresistivityofsemi-insulating

em.iconductorwafer

2015-04-30发布2015-10一01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

SJ/T11487-2015

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本标准按照GB!fl

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