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本发明涉及一种基于YOLOv5算法改进的PCB缺陷检测方法，包括以下步骤：获取公开的PCB数据集进行预处理；建立YOLOv5网络结构，在原YOLOv5骨干特征提取网络中的C3模块基础上引入密集连接模块；引入CA注意力机制，进一步优化特征表示，提升目标检测性能；增加一个新的尺度预测头，通过添加小目标检测分支，进一步强化了模型对于小目标的检测能力；最后将PCB表面缺陷样本送入改进后的YOLOv5网络模型中进行训练得到目标检测最优模型和数据，根据最后的准确率、召回率、以及最后得出的MAP值评估
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117274197A
(43)申请公布日2023.12.22
(21)申请号202311241324.XG06V10/774(2022.01)
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