电子元器件参数测量及仪器(精).docxVIP

第7章电子元器件参数测量及仪器

本章介绍：

器件一般指二极管、三极管、场效应管等，测试仪器为晶体管图示仪，测出其特性曲线

阻抗测量一般是指电阻、电容、电感及相关的Q值、损耗角、电导等参数的测量。其中，电阻表示电路中能量的损耗，电容和电感则分别表示电场能量和磁场能量的存储和寄生参数对阻抗测试的影响。由于电阻器、电感器和电容器受到所加的电压、电流、频率、温度及其它物理和电气环境的影响而改变阻抗值，因此在不同的条件下其电路模型不同。

本章主要介绍阻抗的测量方法即阻抗模拟测量法和数字测量法等阻抗测量的基本技术。

集总参数元件的测量主要采用电压-电流法、电桥法和谐振法。依据电桥法制成的测量仪总称为电桥，电桥主要用来测量低频元件。Q表是依据谐振法制成的测量仪器，Q表主要用

来测量高频元件。

阻抗测量有多种方法，必须首先考虑测量的要求和条件，然后选择最合适的方法，需要考虑的因素包括频率覆盖范围、测量量程、测量精度和操作的方便性。没有一种方法能包括所有的测量能力，因此在选择测量方法时需折衷考虑。应在测试频率范围内根据它们各自的优缺点选择正确的测试方法。

电子器件特性及参数测量仪器

电子器件参数仪器的分类

1、半导体分立器件测量仪器

、直流参数测量仪器

、交流参数测量仪器

、极限参数测量仪器

、晶体管图示仪

2、数字集成电路测试仪器

3、模拟集成电路测试仪

晶体管特性曲线的