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本申请公开了一种显示屏Array多通道实现通断性测量的系统，用于提高在新一代显示Array的通道通断性测量的效率。本申请包括：背板单元和测卡单元；所述背板单元包括处理器单元和供电单元；所述背板单元上设置有测卡卡槽；所述测卡单元安装在所述测卡卡槽上；所述测卡单元包括测量端子、驱动采样及选通阵列、前置放大阵列和ADC阵列；所述测量端子与所述驱动采样及选通阵列连接，所述测量端子用于测量信号；所述驱动采样及选通阵列与所述前置放大阵列连接；所述前置放大阵列与所述ADC阵列连接，所述ADC阵列用于将信号传输
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117275375A
(43)申请公布日2023.12.22
(21)申请号202310980006.9
(22)申请日2023.08.04
(71)申请人长沙精智达电子技术有限公司
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