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本发明公开了一种大规模存储器可靠性分析方法、装置、存储介质及设备，属于存储器性能分析技术领域，包括获取存储器中的超高维工艺参数；将所述超高维工艺参数分割成切片向量；将所述切片向量输入到训练好的存储器可靠性分析模型中，得到电路响应，完成存储器可靠性分析；根据“分而治之”的思想，先用sub‑RBF学习切片影响，然后用MLP恢复切片与电路响应之间的关系，实现效率和精度的同时提高。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117271173A
(43)申请公布日2023.12.22
(21)申请号202311279659.0
(22)申请日2023.09.28
(71)申请人中科南京智能技术研究院
地址2
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