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本公开的实施例提供了用于芯片测试的插座组件以及芯片测试系统。该插座组件包括：第一本体；多个第一探针，穿过第一本体，多个第一探针适于在第一本体的第一表面处受到待测试芯片按压、并且在第一本体的第二表面处按压测试设备，以电连接待测试芯片和测试设备；以及压力感测装置，被布置为感测多个第一探针中的至少一部分第一探针所承受的压力。本公开的方案可以在芯片测试过程中对芯片所承受的压力进行实时监测以避免测试过程中发生质量事故，并且还可以实现测试硬件的寿命监测。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117288987A
(43)申请公布日2023.12.26
(21)申请号202210693439.1
(22)申请日2022.06.17
(71)申请人华为技术有限公司
地址5181
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