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本发明公开了一种液晶模组杂质定位方法、除杂方法及除杂系统，杂质定位方法包括构建CCD相机矩阵，多个CCD相机以M*N矩阵式排布；每个CCD相机以其前置的光学成像系统的放大倍率覆盖液晶模组一定区域，使CCD相机的图像与液晶模组物面形成一一对应的映射关系，并保证CCD相机矩阵对整个液晶模组物面完全覆盖；对多个CCD相机的图像进行裁剪和拼接形成完整图像，完整图像的每个像素坐标与液晶模组物面的每个物面坐标具有一一映射关系；通过CCD相机矩阵判断生产线上的液晶模组上是否存在杂质，并确定杂质在液晶模组物面上
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117291863A
(43)申请公布日2023.12.26
(21)申请号202210698793.3G06T3/40(2006.01)
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