一种芯片测试电路及其装置.pdfVIP

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2023-12-28 发布于四川
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本实用新型属于测试技术领域，提供了一种芯片测试电路，用于连接多个待测试芯片，所述芯片测试电路包括：电源单元，用于提供电源；信号输入单元，与所述电源单元以及所述待测试芯片连接，用于根据测试信号输出芯片测试信号；开关单元，与所述信号输入单元以及所述待测试芯片连接，用于根据开关信号导通或断开信号输入单元和待测试芯片，并根据开关信号和所述芯片测试信号输出反馈信号；输出单元，与所述开关单元以及所述电源单元连接，用于根据所述反馈信号生成输出信号；控制单元，与所述电源单元、所述信号输入单元、所述开关单元以及所

(19)国家知识产权局

(12)实用新型专利

(10)授权公告号CN220252105U

(45)授权公告日2023.12.26

(21)申请号202321503608.7

(22)申请日2023.06.14

(73)专利权人中山远实微科技有限公司

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