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2023-12-28 发布于四川
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一种LED芯片老化测试装置.pdf

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本实用新型公开了一种LED芯片老化测试装置，包括：底箱，所述底箱顶部的烤后侧焊接有N型架，所述N型架的顶部横向滑动设置有杆架，所述杆架的内部安装有电动伸缩杆，且电动伸缩杆的活动端位于杆架的下方，并安装有升降板，所述升降板的底部可拆式安装有连接块，所述连接块的底部安装有老化座上座。该一种LED芯片老化测试装置，左右设置两个老化座下座，两个老化座下座交替进行使用，一个老化座下座在进行芯片测试时，另一个老化座下座位于前侧，工作人员可对其进行芯片的上下料操作，无需装置停机等待芯片的上下料，更加充分的对装

(19)国家知识产权局

(12)实用新型专利

(10)授权公告号CN220252112U

(45)授权公告日2023.12.26

(21)申请号202321882234.4

(22)申请日2023.07.18

(73)专利权人深圳市富铭达精密陶瓷有限公司

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