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一种提升数字电路长期抗温度涨落能力的方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-12-30 发布于四川
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一种提升数字电路长期抗温度涨落能力的方法及装置.pdf

    本发明公开了一种提升数字电路长期抗温度涨落能力的方法，包括：获取第一标准单元的第一零温度延时点；对所述第一标准单元进行老化仿真，得到所述第一标准单元的老化信息；根据所述第一零温度延时点以及所述老化信息，获取目标仿真网表；根据所述目标仿真网表，获取第二零温度延时点；根据所述第一零温度延时点以及所述第二零温度延时点，获得预设子集；根据筛选条件，对所述预设子集进行筛选，得到目标子集；将所述目标子集输入目标工具，进行重特征化处理，得到目标库；将所述目标库输入电路综合工具，得到目标电路。本发明实施例可以使

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117313631A

    (43)申请公布日2023.12.29

    (21)申请号202311184048.8

    (22)申请日2023.09.13

    (71)申请人中山大学

    地址510275

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