- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本说明书实施例提供了一种确定晶圆良率的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括:获取目标晶圆上的各管芯在不同检测阶段产生的多个检测数据,其中,各检测数据包括检测阶段、检测类型和检测结果;获取预先训练的噪声网络模型,所述神经网络模型的输入层包括N个输入节点,中间层包括伪节点和与N个输入节点一一对应连接的N个激活节点,其中伪节点不与输入节点连接,且中间层的各个节点均连接到输出层。对于目标晶圆上的各管芯,将该管芯的多个检测数据中的检测结果按照预设顺序输入所述N个输入节点以进行模型处理,通过输出层预测得到
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117313940A
(43)申请公布日2023.12.29
(21)申请号202311295180.6G06N3/084(2023.01)
文档评论(0)