一种薄片式表面应变计.pdfVIP

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本发明涉及一种薄片式表面应变计,包括应变本体、全桥应变片,应变本体具有基体,基体的中部形成有应变测量区域,应变测量区域处的厚度薄于与其邻接的基体的厚度,应变测量区域的表面的应变测量面低于与其邻接的基体的表面;全桥应变片置于应变测量面处,应变测量区域的轴向刚度小于位于其外侧的延展区域的轴向刚度,传入应变本体两端的形变集中于应变测量区域上发生,实现应变量的增加。应变测量区域的邻接处形成有应变平衡环,应变平衡环用于调节应变测量区域内轴向应变分量与横向应变分量的比例。本发明的薄片式表面应变计的形变集中在

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117308764A

(43)申请公布日2023.12.29

(21)申请号202311286729.5(51)Int.Cl.

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