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本申请实施例公开了一种半导体激光器良率生成方法、系统、电子设备及存储介质。该方法包括：获取来料的半导体激光器的良品数量、芯片类型以及所述半导体激光器当前的第一测试数量；若所述第一测试数量小于所述良品数量，确定所述来料的半导体激光器是否存在在制品；若所述来料的半导体激光器中不存在在制品，根据所述芯片类型获取所述第一测试数量的半导体激光器的第一测试信息，并根据所述第一测试信息生成所述来料的半导体激光器的测试良率，进而可以快速的获取来料的半导体激光器COS封装的良率测试，同时也可以避免人工操作记录失误
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117335260A
(43)申请公布日2024.01.02
(21)申请号202311253679.0G01M11/00(2006.01)
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