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2024-01-03 发布于四川
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本申请提供了一种芯片调试方法及相关装置，应用于目标芯片的并行处理器，方法包括：获取标准工作电压下配置在双数据速率物理层接口模块中的参考窗口参数；通过双数据速率物理层接口模块执行读写测试，以判断目标芯片能否在第一电压波动范围内正确读写；若不能正确读写，则检测目标芯片中所有功能模块的工作电压波动范围；若检测到双数据速率物理层接口模块的工作电压波动范围为第二电压波动范围，则调整参考窗口参数，以使得目标芯片能够在第一电压波动范围内正确读写。如此，解决了已经按照原有设计生产的目标芯片无法在较大的电压波动下

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117330942A

(43)申请公布日2024.01.02

(21)申请号202311611017.6

(22)申请日2023.11.29

(71)申请人珠海市芯动力科技有限公司

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