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一种高压KGD测试夹具及测试装置.pdfVIP

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  • 2024-01-03 发布于四川
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一种高压KGD测试夹具及测试装置.pdf

    本实用新型涉及功率器件高压测试技术，公开了一种高压KGD测试夹具及测试装置，其包括夹具基板(1)，其夹具基板(1)上设有凹槽单元(2)，凹槽单元(2)连接有功率器件芯片凸台单元(4)，功率器件芯片凸台单元(4)上设有真空吸附单元(3)，功率器件芯片通过真空吸附单元(3)吸附于功率器件芯片凸台单元上；本实用新型通过真空吸附单元吸附住功率器件芯片用于进行测试，其夹具结构简单，且成本低。本实用新型通过喷涂氟油在单颗芯片的上表面进行绝缘，达到对功率器件裸芯片进行高压参数测试的目的。

    (19)国家知识产权局

    (12)实用新型专利

    (10)授权公告号CN220289656U

    (45)授权公告日2024.01.02

    (21)申请号202321293511.8

    (22)申请日2023.05.25

    (73)专利权人派恩杰半导体（杭州）有限公司

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