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本发明涉及一种天波雷达电离层污染校正方法及系统。本发明根据电离层污染的特点选取样条函数作为参数化时频变换的核函数,针对电离层污染后的信号估计核函数参数,利用核函数来估计污染序列,进行污染校正。对于多模传播条件下的电离层污染,采用校正后滤除的方式,多次迭代完成污染的校正。采用本发明所提供的天波雷达电离层污染校正方法及系统,能够适用于多模情形下的污染,提高校正精度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN112014813A
(43)申请公布日2020.12.01
(21)申请号202010912549.3
(22)申请日2020.09.03
(71)申请人中国人民解放军海军航空大学
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