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本发明涉及一种同步辐射X射线多方法联用测量系统，包括沿X射线的传播方向在第一光轴上依次设置的光源、单色器、狭缝、第一电离室、用于供样品放置的样品台和第二电离室，样品台的两侧分别设有荧光探测器和高分辨谱仪，荧光探测器和高分辨谱仪均位于与第一光轴垂直的第二光轴上；系统还包括第一数据采集装置和第二数据采集装置，第一数据采集装置与第一电离室相连，用于根据第一电离室输出的电流获取第一光子数，第二数据采集装置与第二电离室相连，用于根据第二电离室输出的电流获取第二光子数。本发明的同步辐射X射线多方法联用测量系
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117330594A
(43)申请公布日2024.01.02
(21)申请号202311122399.6
(22)申请日2023.08.31
(71)申请人中国科学院上海应用物理研究所
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