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本发明提供一种光纤微弯工装、微弯测试系统及方法，包括桶体、粘附层以及底部光纤，所述粘附层设置在所述桶体的外表面，所述底部光纤粘贴在所述粘附层上，所述底部光纤包括多种不同外径光纤，且每所述不同外径光纤均呈一定的绕线角度和绕线间隔缠绕在所述桶体外侧，且多种所述不同外径光纤均呈一定的宽度粘贴在所述桶体表面形成不同微弯区域。本发明不仅可以提高光纤微弯测试结果的准确性，并且在需要评估光纤多种微弯尺寸的情况时，还可以有效避免多次测试、耗时费力的情况，同时还能改善测试重复性带来的误差较大导致测试结果不准的情况
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117347009A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202311292885.2G01B11/255(2006.01)
(22)申请日2023.09
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