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本申请提供一种忆阻阵列的测试系统及其测试方法及计算机可读存储介质。该测试系统包括测试仪、控制模块及开关级联模块。测试仪用于为待测的忆阻阵列提供激励源和测量功能，测试仪与控制模块通讯连接。忆阻阵列包括呈矩阵排布的多个存储单元及多个地址管脚，每一个存储单元具有对应的地址管脚，测试仪具有多个资源通道，测试仪的资源通道的数量少于忆阻阵列的地址管脚的数量，测试仪中的至少部分资源通道通过开关级联模块连接到忆阻阵列的多个地址管脚，控制模块用于对开关级联模块进行控制，以将测试仪的至少部分资源通道选通至忆阻阵列中
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117352039A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202311427604.X
(22)申请日2023.10.30
(71)申请人之江实验室
地址311121
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