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本发明涉及图像分割技术领域，具体涉及一种智能手机面板表面缺陷检测方法，该方法根据智能手机面板表面灰度图像中各个像素点的像素坐标和灰度值构建样本空间进行聚类分析，得到待合并像素点聚类簇和归并像素点聚类簇；获取表征每个像素点局部邻域灰度差异的邻域灰度影响程度后，根据待合并像素点与归并像素点聚类簇之间的邻域影响程度差异和灰度差异，以及待合并像素点聚类簇中的灰度整体偏离情况，得到参考距离权重，使得结合参考距离权重和距离所进一步地聚类分析得到的调整像素点聚类簇更加准确，也即得到的缺陷区域更加准确，使得对智
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117351008A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202311640452.1G06V10/74(2022.01)
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