GB/T 5095.2507-2021电子设备用机电元件　基本试验规程及测量方法　第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR).pdf

ICS31.220.10

L23

中华人民共和国国家标准

GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-7部分：试验25g:

阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment-

Basictestingproceduresandmeasuringmethods一

Part25-7:Test25g:

Impedance,reflectioncoefficient,andvoltagestandingwaveratio(VSWR)

[IEC60512-25-7:2004,Connectorsforelectronicequipment

TestsandmeasurementsPart25-7:Test25g:Impedance,reflection

coefficient,andvoltagestandingwaveratio(VSWR),IDT]

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局Lg.-/;-

国家标准化管理委员会保叩

GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004

目次

前言…………………………I

1范围和目的…·

2术语和定义…………·

3试验设施……………·

3.1设备

3.2装置

4试验样品…………………4

4.1说明………….4

5试验程序…………………4

5.1时域…………………4

5.2频域………….5

6相关标准应规定的细则．．．．．．．．．．．．

7试验记录文件…………

附录AC规范性附录）测量系统上升时间………………8

附录BC资料性附录）样品近端和远端的确定…………11

附录c（资料性附录）校准标准和试验板标准线路……………………12

附录DC资料性附录）TDR阻抗曲线图说明…………15

附录EC资料性附录）电气终端…………17

附录FC资料性附录）实用指南可变上升时间……………………四

附录GC资料性附录）电子测量用印制电路板的设计依据……………20

附录HC资料性附录）试验信号发射构件………………24

GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004

目。吕

GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下：