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本发明公开了一种少样本环境下的LED芯片焊球PN连接缺陷检测方法，该方法首次提出基于少样本学习的前背景迭代网络。在网络中，深度残差网络提取图像各方面特征与先验掩膜；查询原型提取模块提取查询原型和输出支持查询样本对粗预测分割掩膜；前景原型整合模块整合查询图像的前景信息获取前景原型；背景原型迭代模块提取图像的背景信息方便剔除背景区域。在只使用一个带注释的样本作为监督的情况下，前背景迭代网络能够判断缺陷是否存在，并在灰度图像中定位它们。本发明能够准确地检测不同种类LED芯片焊球PN连接表面缺陷，具有良
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117350960A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202311257352.0G06N3/08(2023.01)
(22)申请日2023.09.2
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