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一种边界扫描电路降虚警率的测试优化方法.pdf

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    本发明公开了一种边界扫描电路降虚警率的测试优化方法，确定边界扫描测试链路上的每个管脚的物理位置坐标，对边界扫描测试链路上所有管脚进行测试得到报警管脚集合，计算报警管脚集合中任意两个管脚的概率距离，并根据概率距离采用聚类算法进行分组，分别从每个管脚分组选择一个管脚组成测试集进行边界扫描测试，得到新的报警管脚集合，继续进行分组，直到新的报警管脚集合为空或报警管脚集合保持不变，则虚警故障验证测试结束，将报警管脚集合中作为故障管脚集合。本发明通过采用管脚之间的概率距离对发生报警现象的管脚进行取类分析，对

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117347824A

    (43)申请公布日2024.01.05

    (21)申请号202311311636.3

    (22)申请日2023.10.10

    (71)申请人电子科技大学

    地址611731

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