内建验证功能的芯片以及芯片内建验证方法.pdfVIP

内建验证功能的芯片以及芯片内建验证方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

内建验证功能的芯片以及芯片内建验证方法。芯片上多个关键点提供的信号集结成一运作信息。该芯片内建的验证硬件包括多个寄存器，供编写涉及顺序相关的事件的分支型触发条件。该验证硬件还包括一运算模块，相应满足该等寄存器所载的分支型触发条件的该运作信息，产生一除错提示。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117350245A

(43)申请公布日2024.01.05

(21)申请号202311330149.1

(22)申请日2023.10.13

(71)申请人上海兆芯集成电路股份有限公司

地址

知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来，知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作，经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

咨询Ta 进入空间

用户编号：5333241143000144

认证主体北京中献电子技术开发有限公司

IP属地四川

更多 >