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本发明公开了一种基于上下文和拓扑特征提取的错误分析方法和装置，包括在量子电路中进行随机游走生成门的路径，路径表示门之间的链式关系，路径中的链式关系表示电路的拓扑特征，路径类型表示上下文信息；通过将路径与路径表匹配得到门特征向量；对门特征向量进行降维；通过将降维的门特征向量与标准向量列表进行匹配来标记门功能；通过检测门功能与相邻门的门功能的相似性实现门的错误分析。该方法和装置能够实现对量子电路进行错误分析，且提高错误分析的准确性。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117350392A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202311224800.7
(22)申请日2023.09.21
(71)申请人浙江大学
地址310058
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