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本发明公开了一种基于准正则模式的光学分析方法、系统、装置及存储介质，方法包括：获取纳米结构的结构信息和材料信息，构建纳米结构的三维或二维模型；获取辅助公式，通过辅助公式求解特征方程组，得到纳米结构的谐振子的本征谐振模式；获取入射光的参数；调用本征谐振模式，求得第m阶本征谐振模式的场激发系数和频率依赖系数；通过本征谐振模式、场激发系数和频率依赖系数计算得到纳米结构的电场和总极化电流场；通过场激发系数、频率依赖系数和总极化电流场计算得到纳米结构的消光截面、吸收截面和散射截面。本发明实施例实现了高效的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117373569A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202311170371.X
(22)申请日2023.09.12
(71)申请人中山大学
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