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一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法.pdfVIP

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  • 2024-01-10 发布于四川
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一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法.pdf

    一种面向衍射散射法颗粒粒度测量的非独立模式反演方法，涉及光散射法颗粒测量技术领域，基于衍射散射法颗粒粒度分布测量装置实施，不需要预先已知被测颗粒系统的分布函数类型，将分布函数类型设定为高斯混合分布，反演寻优方法采用改进蜂群方法，能够有效抑制信号噪声，实现对复杂多峰函数中多分布参数的高精度反演，精确测量颗粒粒度分布。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117368057A

    (43)申请公布日2024.01.09

    (21)申请号202311317251.8

    (22)申请日2023.10.12

    (71)申请人西安电子科技大学

    地址7100

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