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本发明公开一种基于自由空间测量的点阵扫描测量方法，包括：S1、把聚焦透镜天线和待测量的板材相对移动，使聚焦透镜天线在板材上形成具有i行j列的扫描测量区域，扫描测量区域内具有i*j个测量点，聚焦透镜天线在每个测量点的位置对板材测量电磁参数，矢量网络分析仪获取并记录聚焦透镜天线的测量数据，得到i*j个点测量值；S2、对i*j个点测量值作均值处理，得到板材的均值电磁参数。本发明聚焦透镜天线和板材相对移动形成点阵式的多个测量点，通过在每个测量点测量电磁参数，可整体了解板材的电磁参数分布，通过对每个测量点
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117368303A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202311349645.1
(22)申请日2023.10.17
(71)申请人卢子欢
地址528000广
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