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本申请实施例提供一种测试电路、测试系统、测试方法和半导体器件，测试电路包括环形振荡电路和镜像电路；环形振荡电路包括依次级联的多个第一反向单元，每个第一反向单元包括第一输入端和第一输出端，至少一个第一反向单元的第一输入端和第一输出端与镜像电路连接；镜像电路，用于接收第一反向单元的第一输入端对应的第一电压信号和第一输出端对应的第二电压信号，并在第一反向单元的第一输入端发生电平翻转时，根据第一电压信号和第二电压信号镜像第一反向单元中晶体管的翻转电流。本申请实施例可以通过镜像电路镜像第一反向单元中晶体管
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117368676A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202210760104.7
(22)申请日2022.06.30
(71)申请人长鑫存储技术有限公司
地址23
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